簡(jiǎn)要描述：AZBIL光電開(kāi)關(guān),YAMATAKE光電開(kāi)關(guān)產(chǎn)品簡(jiǎn)介3.旋鈕調(diào)整型（HPX-H/A系列）4.模擬輸出型（HPX-MA系列）K1G系列備有可*減少到能「檢測(cè)」為止的作業(yè)時(shí)間的功能。多通道控制器可對(duì)通道間的數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算。可減少上位機(jī)器程序的編制時(shí)間、簡(jiǎn)單地實(shí)現(xiàn)厚度及寬度的檢測(cè)。
產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商更新時(shí)間：2025-03-06訪 問(wèn) 量：3500AZBIL光電開(kāi)關(guān),YAMATAKE光電開(kāi)關(guān)產(chǎn)品簡(jiǎn)介
主要用于檢測(cè)半導(dǎo)體?液晶制造時(shí)的露光、洗凈、
熱處理工序所使用的藥液、純水等的液面、漏液，
采用獨(dú)自的光學(xué)系實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定檢測(cè)、省空間，支持失效保護(hù)。
晶元匹配時(shí)使用的狹光光纖單元、
LED等微小部品的落下檢測(cè)用光纖單元采用適合用途的光學(xué)設(shè)計(jì)及筐體設(shè)計(jì)，
使檢測(cè)性能與省空間得到了統(tǒng)一，減少了調(diào)整工時(shí)，也提了維護(hù)性。
檢測(cè)方式：透過(guò)型、反射型、回歸反射型(偏光反射型)、測(cè)距式
各種用途：耐環(huán)境用、液體檢測(cè)用、基板檢測(cè)用、玻璃基板檢測(cè)用、位移檢測(cè)用
K1G系列 平行光激光與CMOS線(xiàn)性圖像傳感器組合、對(duì)工件位置進(jìn)行檢測(cè)。
HLA系列 通過(guò)直接反射實(shí)現(xiàn)距離檢測(cè)。
實(shí)現(xiàn)了作為通用光電開(kāi)關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)型的容易使用和可靠性
簡(jiǎn)便的操作性、各種連接方式、長(zhǎng)距離檢測(cè)、保護(hù)構(gòu)造設(shè)計(jì)
主要用于半導(dǎo)體及液晶制造工序檢測(cè)使用的藥液、
純水等的液面或漏液、晶元匹配用光纖單元或
LED等微小部品的落下檢測(cè)用光纖單元等特定用途的光學(xué)式傳感器系列。
根據(jù)客戶(hù)的用途或使用方法，可從4種的產(chǎn)品中選擇。
1.性能?功能型（HPX-AG系列）
2.標(biāo)準(zhǔn)型（HPX-EG系列）
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